电子元器件声学扫描检查方法张魁

基本信息

书名:电子元器件声学扫描检查方法

定价：58元

作者:张魁

出版社：北京邮电大学出版社

出版日期：2022-07-01

ISBN：9787563566716

字数：

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版次：

装帧：平装

开本：16开

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内容提要

本书定位于电子元器件声学扫描方法的入门和精通，既可作为零基础人员的入门指南，也可作为有基础的声扫试验人员进阶使用。试验原理部分和操作指南部分主要是入门内容，可用于新员工培训。应用案例部分和试验技巧部分是进阶提升内容，可用于已掌握声扫试验技术的人员进一步提高，快速提升其自身水平和间接经验。塑封器件部分可用于开阔视野，提升塑封器件声扫试验人员的认知水平。

作者介绍

张魁，2010年毕业于北京航空航天大学，硕士，现任职于中国电子科技集团公司第十三研究所，高级工程师。从事元器件质量与可靠性研究工作，主持获得2019年河北省科技进步奖、2020年河北省三三三人才等称号，已授权或受理国家发明专利9项，发表SCI及EI期刊论文12篇，软件著作权2项，出版论著3本，受聘河北科技大学校外硕士生导师。